Nano ölçekli malzemeler mevcut teknolojik atılımları yönlendiriyor ve bunların gözlemi ve analizi, yeni ve yenilikçi bir SEM, JSM-IT700HR tarafından kolaylaştırılıyor.
1 nm uzamsal çözünürlüğe ve 300 nA'lık en büyük prob akımına sahip yeni elektron tabancası, son derece kullanıcı dostu bir yazılım arayüzü ile birleştiğinde SEM'de gözlem ve analizi önemli ölçüde basitleştirir.
Kompakt cihaz tasarımı aynı zamanda EDS entegrasyonunun yanı sıra çoklu aksesuar portlarına sahip büyük bir numune haznesine sahiptir.
Gözlemden analize sorunsuz geçiş için doğrudan SEM gözlem ekranında EDS analizi. Ayrıca Canlı Analiz, karakteristik X ışınları için spektrumların gerçek zamanlı izlenmesini sağlar.
SMILE VIEW™ Lab, optik görüntü, SEM görüntüsü ve EDS analiz sonuçlarını birbirine bağlayan bir JEOL orijinal veri yönetim aracıdır.
Tek bir tıklama ile ölçümden sonra kolayca bir rapor oluşturulabilir.
SEM'i boşaltmak ve üretkenliği artırmak için yazılımın *1 çevrimdışı bir sürümü mevcuttur.
* 1 Çevrimdışı veri analiz yazılımı (isteğe bağlı) gereklidir.
* 2 Microsoft ® Office'i yüklemeniz gerekir.
Ürün Broşürleri
Teknik özetleri, ürün tanıtımlarını ve indirilebilir broşürleri bu alandan görüntüleyebilirsiniz.
