Karmaşık, çok katmanlı elektronik kart kalitesini dilimlemeden CT kalitesind
e inceleme sonuçları sağlar. Hızlı ve kullanıcı dostu bir süreçte, ilgilenilen bölgede herhangi bir yönde sanal mikroskoplar oluşturur. X.Tract, katmanlı bileşenlerin 2D X-ışını görüntülerinde gizlenen kusurları ortaya çıkarır.